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冲击试样缺口投影仪XT-50

更新时间:2017-11-02 点击数:1055

冲击试样缺口投影仪XT-50

                                   冲击试样缺口投影仪XT-50

一、冲击试样缺口投影仪XT-50概述:

随着国内工业技术的发展,越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格,所以在整个试验过程中,试样的加工是否合格会直接影响最终的试验结果。如果试样加工质量不合格,那么其试验结果是不可信的,特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳,尤其是在试验的临界值时,会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格,其质量检验是一个重要的控制手段,目前,用光学投影放大检验是唯一切实可行的方法。

XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。

二、冲击试样缺口投影仪XT-50工作原理:

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。

根据需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。

三、冲击试样缺口投影仪XT-50主要参数: